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書誌情報 | ファイル |
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Identification of chirality of enantiomorphic TaSi2 crystallites by convergent-beam electron diffraction Sakamoto, H; Fujii, A; Inui, H; Tanaka, K; Yamaguchi, M; Ishizuka, K (2003) THERMEC'2003, PTS 1-5, 426-4: 1783-1788 | |
Defect structures in TaSi2 thin films produced by co-sputtering Inui, H; Fujii, A; Hashimoto, T; Tanaka, K; Yamaguchi, M; Ishizuka, K (2003) ACTA MATERIALIA, 51(8): 2285-2296 |