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タイトル: Simulation and experimental study on the junction termination structure for high-voltage 4H-SiC PiN diodes
著者: Hiyoshi, Toru
Hori, Tsutomu
Suda, Jun
Kimoto, Tsunenobu  kyouindb  KAKEN_id  orcid https://orcid.org/0000-0002-6649-2090 (unconfirmed)
キーワード: bevel mesa
junction termination extension (JTE)
PiN
silicon carbide (SiC)
simulation
発行日: 2008
出版者: IEEE-INST ELECTRICAL ELECTRONICS ENGINEERS INC
誌名: IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICES
巻: 55
号: 8
開始ページ: 1841
終了ページ: 1846
URI: http://hdl.handle.net/2433/78611
DOI(出版社版): 10.1109/TED.2008.926643
リンク: Web of Science
出現コレクション:英文論文データベース

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