ダウンロード数: 367
このアイテムのファイル:
| ファイル | 記述 | サイズ | フォーマット | |
|---|---|---|---|---|
| PhysRevB_72_165431.pdf | 535.35 kB | Adobe PDF | 見る/開く |
| タイトル: | Ab initio study of the surface properties and ideal strength of (100)silicon thin films |
| 著者: | Umeno, Y Kushima, A Kitamura, T  Gumbsch, P Li, J |
| 発行日: | Oct-2005 |
| 出版者: | AMERICAN PHYSICAL SOC |
| 誌名: | PHYSICAL REVIEW B |
| 巻: | 72 |
| 号: | 16 |
| 論文番号: | 165431 |
| 著作権等: | Copyright 2005 American Physical Society |
| URI: | http://hdl.handle.net/2433/39877 |
| DOI(出版社版): | 10.1103/PhysRevB.72.165431 |
| 関連リンク: | http://link.aps.org/abstract/PRB/v72/p165431 |
| 出現コレクション: | 学術雑誌掲載論文等 |
このリポジトリに保管されているアイテムはすべて著作権により保護されています。