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書誌情報 | ファイル |
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VLSIのテストパターンの生成(離散数理モデルにおける最適組合せ構造) 手塚, 集; 伏見, 正則 (1993-02) 数理解析研究所講究録, 820: 72-75 |
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VLSIのテストパターンの生成(離散数理モデルにおける最適組合せ構造) 手塚, 集; 伏見, 正則 (1993-02) 数理解析研究所講究録, 820: 72-75 |