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| ファイル | 記述 | サイズ | フォーマット | |
|---|---|---|---|---|
| 0820-08.pdf | 241.14 kB | Adobe PDF | 見る/開く |
| タイトル: | VLSIのテストパターンの生成(離散数理モデルにおける最適組合せ構造) |
| 著者: | 手塚, 集  伏見, 正則 |
| 著者名の別形: | Tezuka, Shu Fushimi, Masanori |
| 発行日: | Feb-1993 |
| 出版者: | 京都大学数理解析研究所 |
| 誌名: | 数理解析研究所講究録 |
| 巻: | 820 |
| 開始ページ: | 72 |
| 終了ページ: | 75 |
| URI: | http://hdl.handle.net/2433/83174 |
| 出現コレクション: | 0820 離散数理モデルにおける最適組合せ構造 |
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