VLSIのテストパターンの生成(離散数理モデルにおける最適組合せ構造)

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http://hdl.handle.net/2433/83174

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ファイル	記述	サイズ	フォーマット
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完全メタデータレコード

DCフィールド	値	言語
dc.contributor.author	手塚, 集	ja
dc.contributor.author	伏見, 正則	ja
dc.contributor.alternative	Tezuka, Shu	en
dc.contributor.alternative	Fushimi, Masanori	en
dc.contributor.transcription	テズカ, シュウ	ja
dc.contributor.transcription	フシミ, マサノリ	ja
dc.date.accessioned	2009-07-30T05:44:20Z	-
dc.date.available	2009-07-30T05:44:20Z	-
dc.date.issued	1993-02	-
dc.identifier.issn	1880-2818	-
dc.identifier.uri	http://hdl.handle.net/2433/83174	-
dc.format.mimetype	application/pdf	-
dc.language.iso	jpn	-
dc.publisher	京都大学数理解析研究所	ja
dc.subject.ndc	410	-
dc.title	VLSIのテストパターンの生成(離散数理モデルにおける最適組合せ構造)	ja
dc.title.transcription	VLSI ノテストパターンノセイセイリサンスウリモデルニオケルサイテキクミアワセコウゾウ	ja-Kana
dc.type	departmental bulletin paper	-
dc.type.niitype	Departmental Bulletin Paper	-
dc.identifier.ncid	AN00061013	-
dc.identifier.jtitle	数理解析研究所講究録	ja
dc.identifier.volume	820	-
dc.identifier.spage	72	-
dc.identifier.epage	75	-
dc.textversion	publisher	-
dc.sortkey	08	-
dc.address	日本アイ・ビー・エム(株)	ja
dc.address	東京大学工学部計数工学科	ja
dcterms.accessRights	open access	-
出現コレクション:	0820 離散数理モデルにおける最適組合せ構造

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