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| 書誌情報 | ファイル |
|---|---|
| Development of dual-probe atomic force microscopy system using optical beam deflection sensors with obliquely incident laser beams Tsunemi, Eika; Kobayashi, Kei; Matsushige, Kazumi; Yamada, Hirofumi (2011-03) REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS, 82(3) |  |