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書誌情報ファイル
Development of dual-probe atomic force microscopy system using optical beam deflection sensors with obliquely incident laser beams
  Tsunemi, Eika; Kobayashi, Kei; Matsushige, Kazumi; Yamada, Hirofumi (2011-03)
  REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS, 82(3)
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Visualization of anisotropic conductance in polydiacetylene crystal by dual-probe frequency-modulation atomic force microscopy/Kelvin-probe force microscopy
  Tsunemi, Eika; Kobayashi, Kei; Matsushige, Kazumi; Yamada, Hirofumi (2010)
  JOURNAL OF VACUUM SCIENCE & TECHNOLOGY B, 28(3): C4D24-C4D28

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