このアイテムのアクセス数: 0
このアイテムのファイル:
このアイテムに関連するファイルはありません。
完全メタデータレコード
| DCフィールド | 値 | 言語 |
|---|---|---|
| dc.contributor.author | Ninomiya, Satoshi | en |
| dc.contributor.author | Ichiki, Kazuya | en |
| dc.contributor.author | Yamada, Hideaki | en |
| dc.contributor.author | Nakata, Yoshihiko | en |
| dc.contributor.author | Seki, Toshio | en |
| dc.contributor.author | Aoki, Takaaki | en |
| dc.contributor.author | Matsuo, Jiro | en |
| dc.date.accessioned | 2010-04-19T05:51:17Z | - |
| dc.date.available | 2010-04-19T05:51:17Z | - |
| dc.date.issued | 2009 | - |
| dc.identifier.issn | 0951-4198 | - |
| dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/2433/108959 | - |
| dc.language.iso | eng | - |
| dc.publisher | JOHN WILEY & SONS LTD | en |
| dc.title | Precise and fast secondary ion mass spectrometry depth profiling of polymer materials with large Ar cluster ion beams | en |
| dc.type | journal article | - |
| dc.type.niitype | Journal Article | - |
| dc.identifier.jtitle | RAPID COMMUNICATIONS IN MASS SPECTROMETRY | en |
| dc.identifier.volume | 23 | - |
| dc.identifier.issue | 11 | - |
| dc.identifier.spage | 1601 | - |
| dc.identifier.epage | 1606 | - |
| dc.relation.doi | 10.1002/rcm.4046 | - |
| dc.textversion | none | - |
| dcterms.accessRights | metadata only access | - |
| 出現コレクション: | 英文論文データベース | |
このリポジトリに保管されているアイテムはすべて著作権により保護されています。