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| タイトル: | Solution-TiO2 Interface Probed by Frequency-Modulation Atomic Force Microscopy |
| 著者: | Hiasa, Takumi Kimura, Kenjiro Onishi, Hiroshi Ohta, Masahiro Watanabe, Kazuyuki Kokawa, Ryohei Oyabu, Noriaki Kobayashi, Kei    https://orcid.org/0000-0002-1409-6539 (unconfirmed)Yamada, Hirofumi |
| 発行日: | 2009 |
| 出版者: | JAPAN SOCIETY APPLIED PHYSICS |
| 誌名: | JAPANESE JOURNAL OF APPLIED PHYSICS |
| 巻: | 48 |
| 号: | 8 |
| 論文番号: | 08JB19 |
| URI: | http://hdl.handle.net/2433/109506 |
| DOI(出版社版): | 10.1143/JJAP.48.08JB19 |
| リンク: | Web of Science |
| 出現コレクション: | 英文論文データベース |
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