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完全メタデータレコード
| DCフィールド | 値 | 言語 |
|---|---|---|
| dc.contributor.author | Ikehara, T. | en |
| dc.contributor.author | Tsuchiya, T. | en |
| dc.date.accessioned | 2011-09-13T00:25:51Z | - |
| dc.date.available | 2011-09-13T00:25:51Z | - |
| dc.date.issued | 2010 | - |
| dc.identifier.issn | 1750-0443 | - |
| dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/2433/146625 | - |
| dc.language.iso | eng | - |
| dc.publisher | INST ENGINEERING TECHNOLOGY-IET | en |
| dc.title | Measurement of anisotropic fatigue life in micrometre-scale single-crystal silicon specimens | en |
| dc.type | journal article | - |
| dc.type.niitype | Journal Article | - |
| dc.identifier.jtitle | MICRO & NANO LETTERS | en |
| dc.identifier.volume | 5 | - |
| dc.identifier.issue | 1 | - |
| dc.identifier.spage | 49 | - |
| dc.identifier.epage | 52 | - |
| dc.relation.doi | 10.1049/mnl.2009.0073 | - |
| dc.textversion | none | - |
| dcterms.accessRights | metadata only access | - |
| 出現コレクション: | 英文論文データベース | |
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