このアイテムのアクセス数: 0
このアイテムのファイル:
このアイテムに関連するファイルはありません。
完全メタデータレコード
| DCフィールド | 値 | 言語 |
|---|---|---|
| dc.contributor.author | Matsuo, Jiro | en |
| dc.contributor.author | Ninomiya, Satoshi | en |
| dc.contributor.author | Yamada, Hideaki | en |
| dc.contributor.author | Ichiki, Kazuya | en |
| dc.contributor.author | Wakamatsu, Yoshinobu | en |
| dc.contributor.author | Hada, Masaki | en |
| dc.contributor.author | Seki, Toshio | en |
| dc.contributor.author | Aoki, Takaaki | en |
| dc.date.accessioned | 2011-09-13T00:26:53Z | - |
| dc.date.available | 2011-09-13T00:26:53Z | - |
| dc.date.issued | 2010 | - |
| dc.identifier.issn | 0142-2421 | - |
| dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/2433/146704 | - |
| dc.language.iso | eng | - |
| dc.publisher | JOHN WILEY & SONS LTD | en |
| dc.subject | SIMS | en |
| dc.subject | cluster ion beam | en |
| dc.subject | molecular depth profiling | en |
| dc.subject | swift heavy ion beam | en |
| dc.title | SIMS with highly excited primary beams for molecular depth profiling and imaging of organic and biological materials | en |
| dc.type | conference paper | - |
| dc.type.niitype | Conference Paper | - |
| dc.identifier.jtitle | SURFACE AND INTERFACE ANALYSIS | en |
| dc.identifier.volume | 42 | - |
| dc.identifier.issue | 10-11 | - |
| dc.identifier.spage | 1612 | - |
| dc.identifier.epage | 1615 | - |
| dc.relation.doi | 10.1002/sia.3585 | - |
| dc.textversion | none | - |
| dcterms.accessRights | metadata only access | - |
| 出現コレクション: | 英文論文データベース | |
このリポジトリに保管されているアイテムはすべて著作権により保護されています。