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| タイトル: | Development of in situ analyzer of field-emission devices |
| 著者: | Kawasaki, Michito He, Zhen Gotoh, Yasuhito   Tsuji, Hiroshi Ishikawa, Junzo |
| キーワード: | cameras charge-coupled devices field emission electron microscopes tungsten |
| 発行日: | 2010 |
| 出版者: | A V S AMER INST PHYSICS |
| 誌名: | JOURNAL OF VACUUM SCIENCE & TECHNOLOGY B |
| 巻: | 28 |
| 号: | 2 |
| 開始ページ: | C2A77 |
| 終了ページ: | C2A82 |
| URI: | http://hdl.handle.net/2433/146951 |
| DOI(出版社版): | 10.1116/1.3325835 |
| リンク: | Web of Science |
| 出現コレクション: | 英文論文データベース |
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