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dc.contributor.authorPhankong, Nathabhaten
dc.contributor.authorFunaki, Tsuyoshien
dc.contributor.authorHikihara, Takashien
dc.date.accessioned2012-01-11T05:11:47Z-
dc.date.available2012-01-11T05:11:47Z-
dc.date.issued2010-
dc.identifier.issn1349-2543-
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/2433/152258-
dc.format.mimetypeapplication/pdf-
dc.language.isoeng-
dc.publisherIEICE-INST ELECTRONICS INFORMATION COMMUNICATIONS ENGen
dc.rights(c) 社団法人電子情報通信学会ja
dc.subjectC-V characteristicsen
dc.subjectswitching characteristicsen
dc.subjectSiCen
dc.subjectJFETen
dc.subjectdevice structureen
dc.titleSwitching characteristics of lateral-type and vertical-type SiC JFETs depending on their internal parasitic capacitancesen
dc.typejournal article-
dc.type.niitypeJournal Article-
dc.identifier.jtitleIEICE ELECTRONICS EXPRESSen
dc.identifier.volume7-
dc.identifier.issue14-
dc.identifier.spage1051-
dc.identifier.epage1057-
dc.relation.doi10.1587/elex.7.1051-
dc.textversionpublisher-
dc.relation.urlhttp://www.ieice.org/eng/trans_online/index.html-
dcterms.accessRightsopen access-
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