原子間力顕微鏡における制御応用とその展望(<特集>ナノ・マイクロテクノロジーの制御理論と応用)

山末, 耕平; 引原, 隆士

このアイテムのアクセス数: 107

http://hdl.handle.net/2433/153335

このアイテムのファイル:

ファイル	記述	サイズ	フォーマット
110007338392.pdf		1.04 MB	Adobe PDF	見る/開く

完全メタデータレコード

DCフィールド	値	言語
dc.contributor.author	山末, 耕平	ja
dc.contributor.author	引原, 隆士	ja
dc.contributor.alternative	YAMASUE, Kohei	en
dc.contributor.alternative	HIKIHARA, Takashi	en
dc.contributor.transcription	ヤマスエ, コウヘイ	ja-Kana
dc.contributor.transcription	ヒキハラ, タカシ	ja-Kana
dc.date.accessioned	2012-03-06T05:13:56Z	-
dc.date.available	2012-03-06T05:13:56Z	-
dc.date.issued	2009-06-15	-
dc.identifier.issn	0916-1600	-
dc.identifier.uri	http://hdl.handle.net/2433/153335	-
dc.format.mimetype	application/pdf	-
dc.language.iso	jpn	-
dc.publisher	システム制御情報学会	ja
dc.publisher.alternative	The Institute of Systems, Control and Information Engineers	en
dc.rights	システム制御情報学会; 本文データは学協会の許諾に基づきCiNiiから複製したものである	ja
dc.subject	scanning probe microscopy	en
dc.subject	atomic force microscopy	en
dc.subject	nanotechnology	en
dc.subject	cantilever	en
dc.subject	nonlinear dynamics	en
dc.title	原子間力顕微鏡における制御応用とその展望(<特集>ナノ・マイクロテクノロジーの制御理論と応用)	ja
dc.title.alternative	Recent Trends and Perspectives on Control Application in Atomic Force Microscopy(<Special Issue>Control Theories and Applications in Nano and Micro Technologies)	en
dc.type	journal article	-
dc.type.niitype	Journal Article	-
dc.identifier.ncid	AN10062329	-
dc.identifier.jtitle	システム/制御/情報 : システム制御情報学会誌	ja
dc.identifier.volume	53	-
dc.identifier.issue	6	-
dc.identifier.spage	236	-
dc.identifier.epage	242	-
dc.relation.doi	10.11509/isciesci.53.6_236	-
dc.textversion	publisher	-
dc.relation.url	http://ci.nii.ac.jp/naid/110007338392/	-
dcterms.accessRights	open access	-
dc.identifier.pissn	0916-1600	-
dc.identifier.eissn	2424-1806	-
dc.identifier.jtitle-alternative	SYSTEMS, CONTROL AND INFORMATION	en
出現コレクション:	学術雑誌掲載論文等

アイテムの簡略レコードを表示する

Export to RefWorks

このリポジトリに保管されているアイテムはすべて著作権により保護されています。