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ファイル | 記述 | サイズ | フォーマット | |
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LTM-22_3.pdf | 1.01 MB | Adobe PDF | 見る/開く |
タイトル: | <研究ノート>有機半導体の空準位と電子親和力の新しい精密測定法 : 近紫外逆光電子分光法の開発 |
その他のタイトル: | <Research Report>Inverse-photoemission spectroscopy in the near ultraviolet range: A new tool to examine unoccupied states and electron affinities of organic semiconductors |
著者: | 吉田, 弘幸 |
著者名の別形: | Yoshida, Hiroyuki |
発行日: | 1-Jun-2013 |
出版者: | 京都大学低温物質科学研究センター |
誌名: | 低温物質科学研究センター誌 : LTMセンター誌 |
巻: | 22 |
開始ページ: | 3 |
終了ページ: | 9 |
抄録: | We demonstrate inverse-photoemission spectroscopy (IPES) in the near-ultraviolet range (hν < 5 eV) using electrons with kinetic energies less than 4 eV for the first time. The energy resolution of the instrument is attained to be 0.27 eV which is a factor of two better than the conventional IPES. From the spectra of a typical organic semiconductor, copper phthalocyanine, it is found that damage to the organic sample is significantly reduced, showing that this method is especially suitable to examine unoccupied states and precisely determine the electron affinities of organic semiconducting materials. |
DOI: | 10.14989/175261 |
URI: | http://hdl.handle.net/2433/175261 |
関連リンク: | http://www.ltm.kyoto-u.ac.jp/centershi/ |
出現コレクション: | 第22号 |
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