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タイトル: デバイス特性推定に基づく集積回路の適応型テストに関する研究
著者: 新谷, 道広  KAKEN_name
著者名の別形: Shintani, Michihiro
キーワード: 集積回路テスト
集積回路製造ばらつき
発行日: 24-Sep-2014
出版者: 京都大学 (Kyoto University)
学位授与大学: 京都大学
学位の種類: 新制・課程博士
取得分野: 博士(情報学)
報告番号: 甲第18624号
学位記番号: 情博第548号
学位授与年月日: 2014-09-24
請求記号: 新制||情||97(附属図書館)
整理番号: 31524
研究科・専攻: 京都大学大学院情報学研究科通信情報システム専攻
論文調査委員: (主査)教授 佐藤 高史, 教授 小野寺 秀俊, 教授 髙木 直史
学位授与の要件: 学位規則第4条第1項該当
著作権等: 許諾条件により本文は2014/11/06に公開
DOI: 10.14989/doctor.k18624
URI: http://hdl.handle.net/2433/192224
出現コレクション:140 博士(情報学)

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