Access count of this item: 241

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
yjohk00583.pdfAbstract_要旨116.67 kBAdobe PDFView/Open
djohk00583.pdfDissertation_全文9.86 MBAdobe PDFView/Open
Title: Impact of Bias Temperature Instability and Random Telegraph Noise on CMOS Logic Circuits
Other Titles: バイアス温度不安定性とランダムテレグラフノイズがCMOS論理回路特性に及ぼす影響
Authors: Matsumoto, Takashi
Author's alias: 松本, 高士
Keywords: CMOS
NBTI
RTN
combinational circuit
gate oxide
reliability
noise
Issue Date: 23-Mar-2015
Publisher: 京都大学 (Kyoto University)
Conferring University: Kyoto University (京都大学)
Degree Level: 新制・課程博士
Degree Discipline: 博士(情報学)
Degree Report no.: 甲第19137号
Degree no.: 情博第583号
Degree Call no.: 新制||情||102(附属図書館)
Degree Serial no.: 32088
Degree Affiliation: 京都大学大学院情報学研究科通信情報システム専攻
Examination Committee members: (主査)教授 小野寺 秀俊, 教授 髙木 直史, 教授 佐藤 高史
Provisions of the Ruling of Degree: 学位規則第4条第1項該当
Rights: 許諾条件により本文は2016/03/22に公開
©2012 IEEE, ©2013 IEEE, ©2014 IEEE, ©2011 Japan Soc. App. Phys., ©2012 Japan Soc. App. Phys., ©2013 Japan Soc. App. Phys.
DOI: 10.14989/doctor.k19137
URI: http://hdl.handle.net/2433/199461
Appears in Collections:Doctoral Dissertation (Informatics)

Show full item record

Export to RefWorks


Export Format: 


Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.