1. Kyoto University Research Information Repository
  2. 090　工学研究科・工学部
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dc.contributor.authorTomita, Takuroen
dc.contributor.authorMatsuo, Shigekien
dc.contributor.authorOkada, Tatsuyaen
dc.contributor.authorKimoto, Tsunenobuen
dc.contributor.authorMatsunami, Hiroyukien
dc.contributor.authorMitani, Takeshien
dc.contributor.authorNakashima, Shin-Ichien
dc.contributor.alternative木本, 恒暢ja
dc.contributor.alternative松波, 弘之ja
dc.date.accessioned2006-12-25T02:30:06Z-
dc.date.available2006-12-25T02:30:06Z-
dc.date.issued2005-12-12-
dc.identifier.citationT. Tomita et al., Appl. Phys. Lett. 87, 241906 (2005)-
dc.identifier.issn0003-6951-
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/2433/24190-
dc.format.extent221865 bytes-
dc.format.mimetypeapplication/pdf-
dc.language.isoeng-
dc.publisherAmerican Institute of Physicsen
dc.rightsCopyright 2005 American Institute of Physics. This article may be downloaded for personal use only. Any other use requires prior permission of the author and the American Institute of Physics.en
dc.titleDeep-ultraviolet micro-Raman investigation of surface defects in a 4H-SiC homoepitaxially grown filmen
dc.typejournal article-
dc.type.niitypeJournal Article-
dc.identifier.ncidAA00543431-
dc.identifier.jtitleApplied Physics Lettersen
dc.identifier.volume87-
dc.identifier.issue24-
dc.relation.doi10.1063/1.2142080-
dc.textversionpublisher-
dc.identifier.artnum241906-
dc.relation.urlhttp://link.aip.org/link/?apl/87/241906-
dcterms.accessRightsopen access-
dc.identifier.pissn0003-6951-
dc.identifier.eissn1077-3118-
出現コレクション:学術雑誌掲載論文等

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