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dc.contributor.authorChang, SSen
dc.contributor.authorKurokawa, Sen
dc.contributor.authorSakai, Aen
dc.date.accessioned2007-03-28T03:33:05Z-
dc.date.available2007-03-28T03:33:05Z-
dc.date.issued2003-
dc.identifier.issn0169-4332-
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/2433/3278-
dc.language.isoeng-
dc.publisherELSEVIER SCIENCE BVen
dc.subjectZnOen
dc.subjectanodic etchingen
dc.subjectannealingen
dc.subjectscanning tunneling microscopyen
dc.subjectscanning tunneling spectroscopyen
dc.titleProperties of annealed anodically etched porous Zn studied by scanning tunneling microscopyen
dc.typejournal article-
dc.type.niitypeJournal Article-
dc.identifier.jtitleAPPLIED SURFACE SCIENCEen
dc.identifier.volume217-
dc.identifier.issue1-4-
dc.identifier.spage50-
dc.identifier.epage55-
dc.relation.doi10.1016/S0169-4332(02)01410-1-
dc.textversionnone-
dcterms.accessRightsmetadata only access-
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