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| タイトル: | Midgap levels in both n- and p-type 4H-SiC epilayers investigated by deep level transient spectroscopy |
| 著者: | Danno, K Kimoto, T    https://orcid.org/0000-0002-6649-2090 (unconfirmed)Matsunami, H |
| 発行日: | 2005 |
| 出版者: | AMER INST PHYSICS |
| 誌名: | APPLIED PHYSICS LETTERS |
| 巻: | 86 |
| 号: | 12 |
| 論文番号: | 122104 |
| URI: | http://hdl.handle.net/2433/3339 |
| DOI(出版社版): | 10.1063/1.1886904 |
| リンク: | Web of Science |
| 出現コレクション: | 英文論文データベース |
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