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完全メタデータレコード
| DCフィールド | 値 | 言語 |
|---|---|---|
| dc.contributor.author | Ding, Y | en |
| dc.contributor.author | Micheletto, R | en |
| dc.contributor.author | Okazaki, S | en |
| dc.contributor.author | Otsuka, K | en |
| dc.date.accessioned | 2007-03-28T03:28:26Z | - |
| dc.date.available | 2007-03-28T03:28:26Z | - |
| dc.date.issued | 2003 | - |
| dc.identifier.issn | 0169-4332 | - |
| dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/2433/3359 | - |
| dc.language.iso | eng | - |
| dc.publisher | ELSEVIER SCIENCE BV | en |
| dc.subject | TOF | en |
| dc.subject | STM | en |
| dc.subject | near field | en |
| dc.subject | mass spectrometer | en |
| dc.subject | ionization | en |
| dc.subject | laser | en |
| dc.subject | surface analysis | en |
| dc.subject | surface characterization | en |
| dc.title | Nano-localized desorption and time-of-flight mass analysis using solely optical enhancement in the proximity of a scanning tunneling microscope tip | en |
| dc.type | journal article | - |
| dc.type.niitype | Journal Article | - |
| dc.identifier.jtitle | APPLIED SURFACE SCIENCE | en |
| dc.identifier.volume | 211 | - |
| dc.identifier.issue | 1-4 | - |
| dc.identifier.spage | 82 | - |
| dc.identifier.epage | 88 | - |
| dc.relation.doi | 10.1016/S0169-4332(03)00174-0 | - |
| dc.textversion | none | - |
| dcterms.accessRights | metadata only access | - |
| 出現コレクション: | 英文論文データベース | |
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