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dc.contributor.authorEl-Hami, Ken
dc.contributor.authorMatsushige, Ken
dc.date.accessioned2007-03-28T03:27:47Z-
dc.date.available2007-03-28T03:27:47Z-
dc.date.issued2005-
dc.identifier.issn0304-3991-
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/2433/3423-
dc.language.isoeng-
dc.publisherELSEVIER SCIENCE BVen
dc.subjectcarbon nanotubeen
dc.subjectconductive atomic force microscopyen
dc.subjectelectrostriction strainen
dc.titleElectrostriction in single-walled carbon nanotubesen
dc.typejournal article-
dc.type.niitypeJournal Article-
dc.identifier.jtitleULTRAMICROSCOPYen
dc.identifier.volume105-
dc.identifier.issue1-4-
dc.identifier.spage143-
dc.identifier.epage147-
dc.relation.doi10.1016/j.ultramic.2005.06.030-
dc.textversionnone-
dcterms.accessRightsmetadata only access-
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