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完全メタデータレコード
| DCフィールド | 値 | 言語 |
|---|---|---|
| dc.contributor.author | Danno, K | en |
| dc.contributor.author | Kimoto, T | en |
| dc.date.accessioned | 2007-03-28T05:40:49Z | - |
| dc.date.available | 2007-03-28T05:40:49Z | - |
| dc.date.issued | 2006 | - |
| dc.identifier.issn | 0021-4922 | - |
| dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/2433/35076 | - |
| dc.language.iso | eng | - |
| dc.publisher | INST PURE APPLIED PHYSICS | en |
| dc.subject | silicon carbide | en |
| dc.subject | deep level | en |
| dc.subject | hole trap | en |
| dc.subject | midgap | en |
| dc.subject | DLTS | en |
| dc.title | High-temperature deep level transient spectroscopy on As-grown P-type 4H-SiC epilayers | en |
| dc.type | journal article | - |
| dc.type.niitype | Journal Article | - |
| dc.identifier.jtitle | JAPANESE JOURNAL OF APPLIED PHYSICS PART 2-LETTERS & EXPRESS LETTERS | en |
| dc.identifier.volume | 45 | - |
| dc.identifier.issue | 8-11 | - |
| dc.identifier.spage | L285 | - |
| dc.identifier.epage | L287 | - |
| dc.relation.doi | 10.1143/JJAP.45.L285 | - |
| dc.textversion | none | - |
| dcterms.accessRights | metadata only access | - |
| 出現コレクション: | 英文論文データベース | |
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