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完全メタデータレコード
| DCフィールド | 値 | 言語 |
|---|---|---|
| dc.contributor.author | Nakajima, K | en |
| dc.contributor.author | Suzuki, M | en |
| dc.contributor.author | Kimura, K | en |
| dc.contributor.author | Yamamoto, M | en |
| dc.contributor.author | Teramoto, A | en |
| dc.contributor.author | Ohmi, T | en |
| dc.contributor.author | Hattori, T | en |
| dc.date.accessioned | 2007-03-28T05:42:00Z | - |
| dc.date.available | 2007-03-28T05:42:00Z | - |
| dc.date.issued | 2006 | - |
| dc.identifier.issn | 0021-4922 | - |
| dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/2433/35164 | - |
| dc.language.iso | eng | - |
| dc.publisher | INST PURE APPLIED PHYSICS | en |
| dc.subject | lattice distortion | en |
| dc.subject | silicon | en |
| dc.subject | SiO2 | en |
| dc.subject | interface | en |
| dc.subject | high-resolution RBS | en |
| dc.subject | channeling | en |
| dc.title | Lattice distortion at SiO2/Si(001) interface studied with high-resolution rutherford backscattering spectroscopy/channeling | en |
| dc.type | journal article | - |
| dc.type.niitype | Journal Article | - |
| dc.identifier.jtitle | JAPANESE JOURNAL OF APPLIED PHYSICS PART 1-REGULAR PAPERS BRIEF COMMUNICATIONS & REVIEW PAPERS | en |
| dc.identifier.volume | 45 | - |
| dc.identifier.issue | 4A | - |
| dc.identifier.spage | 2467 | - |
| dc.identifier.epage | 2469 | - |
| dc.relation.doi | 10.1143/JJAP.45.2467 | - |
| dc.textversion | none | - |
| dcterms.accessRights | metadata only access | - |
| 出現コレクション: | 英文論文データベース | |
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