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  2. 090　工学研究科・工学部
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dc.contributor.authorSchaper, AKen
dc.contributor.authorYoshioka, Ten
dc.contributor.authorOgawa, Ten
dc.contributor.authorTsuji, Men
dc.date.accessioned2007-03-28T05:46:39Z-
dc.date.available2007-03-28T05:46:39Z-
dc.date.issued2006-
dc.identifier.issn0022-2720-
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/2433/35503-
dc.language.isoeng-
dc.publisherBLACKWELL PUBLISHINGen
dc.subjectcryo-protectionen
dc.subjectelectron microscopy and diffractionen
dc.subjectlow-dose microscopyen
dc.subjectnanocompositesen
dc.subjectorganic nanotubes and nanowiresen
dc.titleElectron microscopy and diffraction of radiation-sensitive nanostructured materialsen
dc.typejournal article-
dc.type.niitypeJournal Article-
dc.identifier.jtitleJOURNAL OF MICROSCOPY-OXFORDen
dc.identifier.volume223-
dc.identifier.spage88-
dc.identifier.epage95-
dc.textversionnone-
dcterms.accessRightsmetadata only access-
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