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| タイトル: | Effects of secondary electrons emitted from surroundings on defect formation in silica glass under gamma-ray irradiation |
| 著者: | Obata, S Yoshida, T Tanabe, T Allen, C Okada, M Xu, Q   |
| 発行日: | 2006 |
| 出版者: | ELSEVIER SCIENCE BV |
| 誌名: | NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS IN PHYSICS RESEARCH SECTION B-BEAM INTERACTIONS WITH MATERIALS AND ATOMS |
| 巻: | 250 |
| 開始ページ: | 169 |
| 終了ページ: | 173 |
| URI: | http://hdl.handle.net/2433/35533 |
| DOI(出版社版): | 10.1016/j.nimb.2006.04.102 |
| リンク: | Web of Science |
| 出現コレクション: | 英文論文データベース |
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