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完全メタデータレコード
| DCフィールド | 値 | 言語 |
|---|---|---|
| dc.contributor.author | Ninomiya, S | en |
| dc.contributor.author | Aoki, T | en |
| dc.contributor.author | Seki, T | en |
| dc.contributor.author | Matsuo, J | en |
| dc.date.accessioned | 2007-03-28T05:48:08Z | - |
| dc.date.available | 2007-03-28T05:48:08Z | - |
| dc.date.issued | 2006 | - |
| dc.identifier.issn | 0169-4332 | - |
| dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/2433/35612 | - |
| dc.language.iso | eng | - |
| dc.publisher | ELSEVIER SCIENCE BV | en |
| dc.subject | oxygen cluster ion | en |
| dc.subject | secondary ion mass spectrometry | en |
| dc.subject | low energy | en |
| dc.subject | sputtering yield | en |
| dc.title | Secondary ion measurements for oxygen cluster ion SIMS | en |
| dc.type | journal article | - |
| dc.type.niitype | Journal Article | - |
| dc.identifier.jtitle | APPLIED SURFACE SCIENCE | en |
| dc.identifier.volume | 252 | - |
| dc.identifier.issue | 19 | - |
| dc.identifier.spage | 7290 | - |
| dc.identifier.epage | 7292 | - |
| dc.relation.doi | 10.1016/j.apsusc.2006.02.138 | - |
| dc.textversion | none | - |
| dcterms.accessRights | metadata only access | - |
| 出現コレクション: | 英文論文データベース | |
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