このアイテムのアクセス数: 0

このアイテムのファイル:
このアイテムに関連するファイルはありません。
完全メタデータレコード
DCフィールド言語
dc.contributor.authorFukuma, Ten
dc.contributor.authorUmeda, Ken
dc.contributor.authorKobayashi, Ken
dc.contributor.authorYamada, Hen
dc.contributor.authorMatsushige, Ken
dc.date.accessioned2007-03-28T04:10:16Z-
dc.date.available2007-03-28T04:10:16Z-
dc.date.issued2002-
dc.identifier.issn0021-4922-
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/2433/3581-
dc.language.isoeng-
dc.publisherINST PURE APPLIED PHYSICSen
dc.subjectnon-contact AFMen
dc.subjectKelvin force microscopyen
dc.subjectthiopheneen
dc.subjectenergy dissipationen
dc.subjectelectrostatic interactionen
dc.titleExperimental study on energy dissipation induced by displacement current in non-contact aomic force microscopy imaging of molecular thin filmsen
dc.typejournal article-
dc.type.niitypeJournal Article-
dc.identifier.jtitleJAPANESE JOURNAL OF APPLIED PHYSICS PART 1-REGULAR PAPERS SHORT NOTES & REVIEW PAPERSen
dc.identifier.volume41-
dc.identifier.issue7B-
dc.identifier.spage4903-
dc.identifier.epage4907-
dc.relation.doi10.1143/JJAP.41.4903-
dc.textversionnone-
dcterms.accessRightsmetadata only access-
出現コレクション:英文論文データベース

アイテムの簡略レコードを表示する

Export to RefWorks


出力フォーマット 


このリポジトリに保管されているアイテムはすべて著作権により保護されています。