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| タイトル: | In situ analyzer of electron emission properties: Fowler-Nordheim plotter and Seppen-Katamuki plotter |
| 著者: | Gotoh, Y   Ishizu, K Tsuji, H Ishikawa, J |
| 発行日: | 2003 |
| 出版者: | A V S AMER INST PHYSICS |
| 誌名: | JOURNAL OF VACUUM SCIENCE & TECHNOLOGY B |
| 巻: | 21 |
| 号: | 4 |
| 開始ページ: | 1524 |
| 終了ページ: | 1527 |
| URI: | http://hdl.handle.net/2433/3674 |
| DOI(出版社版): | 10.1116/1.1584471 |
| リンク: | Web of Science |
| 出現コレクション: | 英文論文データベース |
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