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dc.contributor.authorGotoh, Yen
dc.contributor.authorLiao, MYen
dc.contributor.authorTsuji, Hen
dc.contributor.authorIshikawa, Jen
dc.date.accessioned2007-03-28T04:13:57Z-
dc.date.available2007-03-28T04:13:57Z-
dc.date.issued2003-
dc.identifier.issn0021-4922-
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/2433/3679-
dc.language.isoeng-
dc.publisherINST PURE APPLIED PHYSICSen
dc.subjecthafnium nitrideen
dc.subjectcompound targeten
dc.subjectsputteringen
dc.subjectstoichiometryen
dc.subjectorientationen
dc.subjectstressen
dc.subjectelectrical resistivityen
dc.subjectnitrogen compositionen
dc.titleFormation and control of stoichiometric hafnium nitride thin films by direct sputtering of hafnium nitride targeten
dc.typejournal article-
dc.type.niitypeJournal Article-
dc.identifier.jtitleJAPANESE JOURNAL OF APPLIED PHYSICS PART 2-LETTERSen
dc.identifier.volume42-
dc.identifier.issue7A-
dc.identifier.spageL778-
dc.identifier.epageL780-
dc.relation.doi10.1143/JJAP.42.L778-
dc.textversionnone-
dcterms.accessRightsmetadata only access-
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