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完全メタデータレコード
| DCフィールド | 値 | 言語 |
|---|---|---|
| dc.contributor.author | Hirakata, H | en |
| dc.contributor.author | Kitamura, T | en |
| dc.contributor.author | Yamamoto, Y | en |
| dc.date.accessioned | 2007-03-28T03:47:47Z | - |
| dc.date.available | 2007-03-28T03:47:47Z | - |
| dc.date.issued | 2004 | - |
| dc.identifier.issn | 1344-7912 | - |
| dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/2433/3888 | - |
| dc.language.iso | eng | - |
| dc.publisher | JAPAN SOC MECHANICAL ENGINEERS | en |
| dc.subject | delamination | en |
| dc.subject | material testing | en |
| dc.subject | micromechanics | en |
| dc.subject | submicron dot | en |
| dc.subject | atomic force Microscopy | en |
| dc.subject | interface strength | en |
| dc.subject | micro material | en |
| dc.title | Direct measurement of interface strength between copper submicron-dot and silicon dioxide substrate | en |
| dc.type | journal article | - |
| dc.type.niitype | Journal Article | - |
| dc.identifier.jtitle | JSME INTERNATIONAL JOURNAL SERIES A-SOLID MECHANICS AND MATERIAL ENGINEERING | en |
| dc.identifier.volume | 47 | - |
| dc.identifier.issue | 3 | - |
| dc.identifier.spage | 324 | - |
| dc.identifier.epage | 330 | - |
| dc.relation.doi | 10.1299/jsmea.47.324 | - |
| dc.textversion | none | - |
| dcterms.accessRights | metadata only access | - |
| 出現コレクション: | 英文論文データベース | |
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