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| 書誌情報 | ファイル |
|---|---|
| Efficient aging-aware SRAM failure probability calculation via particle filter-based importance sampling Awano, Hiromitsu; Hiromoto, Masayuki; Sato, Takashi (2016-07-01) IEICE Transactions on Fundamentals of Electronics, Communications and Computer Sciences, E99.A: 1390-1399 |  |
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発行日
- 1 2016
資料種別