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dc.contributor.authorKanno, Ien
dc.contributor.authorKotera, Hen
dc.contributor.authorWasa, Ken
dc.contributor.authorMatsunaga, Ten
dc.contributor.authorKamada, Ten
dc.contributor.authorTakayama, Ren
dc.date.accessioned2007-03-28T03:26:19Z-
dc.date.available2007-03-28T03:26:19Z-
dc.date.issued2003-
dc.identifier.issn0021-8979-
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/2433/4618-
dc.language.isoeng-
dc.publisherAMER INST PHYSICSen
dc.titleCrystallographic characterization of epitaxial Pb(Zr,Ti)O-3 films with different Zr/Ti ratio grown by radio-frequency-magnetron sputteringen
dc.typejournal article-
dc.type.niitypeJournal Article-
dc.identifier.jtitleJOURNAL OF APPLIED PHYSICSen
dc.identifier.volume93-
dc.identifier.issue7-
dc.identifier.spage4091-
dc.identifier.epage4096-
dc.relation.doi10.1063/1.1558951-
dc.textversionnone-
dcterms.accessRightsmetadata only access-
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