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完全メタデータレコード
| DCフィールド | 値 | 言語 |
|---|---|---|
| dc.contributor.author | Kawai, J | en |
| dc.contributor.author | Takahashi, H | en |
| dc.date.accessioned | 2007-03-28T03:24:40Z | - |
| dc.date.available | 2007-03-28T03:24:40Z | - |
| dc.date.issued | 2001 | - |
| dc.identifier.issn | 0142-2421 | - |
| dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/2433/4736 | - |
| dc.language.iso | eng | - |
| dc.publisher | JOHN WILEY & SONS LTD | en |
| dc.subject | x-ray analysis | en |
| dc.subject | EPMA | en |
| dc.subject | XANES | en |
| dc.subject | x-ray absorption | en |
| dc.subject | EXEFS | en |
| dc.title | High spatial resolution extended x-ray emission fine structure (EXEFS) spectra of an electronic device measured by electron probe microanalysis (EPMA) | en |
| dc.type | journal article | - |
| dc.type.niitype | Journal Article | - |
| dc.identifier.jtitle | SURFACE AND INTERFACE ANALYSIS | en |
| dc.identifier.volume | 31 | - |
| dc.identifier.issue | 2 | - |
| dc.identifier.spage | 114 | - |
| dc.identifier.epage | 117 | - |
| dc.relation.doi | 10.1002/sia.965 | - |
| dc.textversion | none | - |
| dcterms.accessRights | metadata only access | - |
| 出現コレクション: | 英文論文データベース | |
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