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dc.contributor.authorEnomoto, Ken
dc.contributor.authorKitagawa, Men
dc.contributor.authorKasa, Ken
dc.contributor.authorTojo, Sen
dc.contributor.authorTakahashi, Yen
dc.date.accessioned2008-03-18T00:58:24Z-
dc.date.available2008-03-18T00:58:24Z-
dc.date.issued2007-05-18-
dc.identifier.issn0031-9007-
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/2433/49832-
dc.language.isoeng-
dc.publisherAMERICAN PHYSICAL SOCen
dc.rightsCopyright 2007 American Physical Societyen
dc.titleDetermination of the s-wave scattering length and the C-6 van der Waals coefficient of Yb-174 via photoassociation spectroscopyen
dc.typejournal article-
dc.type.niitypeJournal Article-
dc.identifier.jtitlePHYSICAL REVIEW LETTERSen
dc.identifier.volume98-
dc.identifier.issue20-
dc.relation.doi10.1103/PhysRevLett.98.203201-
dc.textversionpublisher-
dc.identifier.artnum203201-
dc.identifier.pmid17677695-
dc.relation.urlhttp://link.aps.org/abstract/PRL/v98/p203201-
dcterms.accessRightsopen access-
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