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完全メタデータレコード
| DCフィールド | 値 | 言語 |
|---|---|---|
| dc.contributor.author | Kobayashi, K | en |
| dc.contributor.author | Yamada, H | en |
| dc.contributor.author | Horiuchi, T | en |
| dc.contributor.author | Matsushige, K | en |
| dc.date.accessioned | 2007-03-28T03:15:16Z | - |
| dc.date.available | 2007-03-28T03:15:16Z | - |
| dc.date.issued | 1999 | - |
| dc.identifier.issn | 0021-4922 | - |
| dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/2433/5001 | - |
| dc.language.iso | eng | - |
| dc.publisher | JAPAN J APPLIED PHYSICS | en |
| dc.subject | atomic force microscopy | en |
| dc.subject | dynamic force microscopy | en |
| dc.subject | C-60 | en |
| dc.subject | fullerene | en |
| dc.subject | Si(111) | en |
| dc.title | Dynamic force microscopy investigations of C-60 deposited on Si(111) surface | en |
| dc.type | journal article | - |
| dc.type.niitype | Journal Article | - |
| dc.identifier.jtitle | JAPANESE JOURNAL OF APPLIED PHYSICS PART 2-LETTERS | en |
| dc.identifier.volume | 38 | - |
| dc.identifier.issue | 12B | - |
| dc.identifier.spage | L1550 | - |
| dc.identifier.epage | L1552 | - |
| dc.relation.doi | 10.1143/JJAP.38.L1550 | - |
| dc.textversion | none | - |
| dcterms.accessRights | metadata only access | - |
| 出現コレクション: | 英文論文データベース | |
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