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完全メタデータレコード
| DCフィールド | 値 | 言語 |
|---|---|---|
| dc.contributor.author | Kobayashi, K | en |
| dc.contributor.author | Yamada, H | en |
| dc.contributor.author | Horiuchi, T | en |
| dc.contributor.author | Matsushige, K | en |
| dc.date.accessioned | 2007-03-28T04:22:00Z | - |
| dc.date.available | 2007-03-28T04:22:00Z | - |
| dc.date.issued | 2000 | - |
| dc.identifier.issn | 0169-4332 | - |
| dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/2433/5002 | - |
| dc.language.iso | eng | - |
| dc.publisher | ELSEVIER SCIENCE BV | en |
| dc.subject | non-contact AFM | en |
| dc.subject | STM | en |
| dc.subject | fullerene | en |
| dc.subject | C-60 | en |
| dc.subject | Si(111) | en |
| dc.subject | contrast inversion | en |
| dc.title | Imaging of fullerene molecules on Si(111)-7 X 7 surface with NC-AFM | en |
| dc.type | journal article | - |
| dc.type.niitype | Journal Article | - |
| dc.identifier.jtitle | APPLIED SURFACE SCIENCE | en |
| dc.identifier.volume | 157 | - |
| dc.identifier.issue | 4 | - |
| dc.identifier.spage | 228 | - |
| dc.identifier.epage | 232 | - |
| dc.relation.doi | 10.1016/S0169-4332(99)00531-0 | - |
| dc.textversion | none | - |
| dcterms.accessRights | metadata only access | - |
| 出現コレクション: | 英文論文データベース | |
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