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完全メタデータレコード
| DCフィールド | 値 | 言語 |
|---|---|---|
| dc.contributor.author | Kobayashi, K | en |
| dc.contributor.author | Yamada, H | en |
| dc.contributor.author | Matsushige, K | en |
| dc.date.accessioned | 2007-03-28T03:33:59Z | - |
| dc.date.available | 2007-03-28T03:33:59Z | - |
| dc.date.issued | 2002 | - |
| dc.identifier.issn | 0003-6951 | - |
| dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/2433/5005 | - |
| dc.language.iso | eng | - |
| dc.publisher | AMER INST PHYSICS | en |
| dc.title | Dopant profiling on semiconducting sample by scanning capacitance force microscopy | en |
| dc.type | journal article | - |
| dc.type.niitype | Journal Article | - |
| dc.identifier.jtitle | APPLIED PHYSICS LETTERS | en |
| dc.identifier.volume | 81 | - |
| dc.identifier.issue | 14 | - |
| dc.identifier.spage | 2629 | - |
| dc.identifier.epage | 2631 | - |
| dc.relation.doi | 10.1063/1.1510582 | - |
| dc.textversion | none | - |
| dcterms.accessRights | metadata only access | - |
| 出現コレクション: | 英文論文データベース | |
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