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| ファイル | 記述 | サイズ | フォーマット | |
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| ApplPhysLett_90_181930.pdf | 345.68 kB | Adobe PDF | 見る/開く |
| タイトル: | X-ray diffraction reciprocal space mapping study of the thin film phase of pentacene |
| 著者: | Yoshida, H  Inaba, K Sato, N |
| 発行日: | 30-Apr-2007 |
| 出版者: | AMER INST PHYSICS |
| 誌名: | APPLIED PHYSICS LETTERS |
| 巻: | 90 |
| 号: | 18 |
| 論文番号: | 181930 |
| 著作権等: | Copyright 2007 American Institute of Physics. This article may be downloaded for personal use only. Any other use requires prior permission of the author and the American Institute of Physics. |
| URI: | http://hdl.handle.net/2433/50336 |
| DOI(出版社版): | 10.1063/1.2736193 |
| 関連リンク: | http://link.aip.org/link/?apl/90/181930 |
| 出現コレクション: | 学術雑誌掲載論文等 |
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