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dc.contributor.authorYoshida, Hen
dc.contributor.authorSato, Nen
dc.date.accessioned2008-03-18T01:14:51Z-
dc.date.available2008-03-18T01:14:51Z-
dc.date.issued2007-10-01-
dc.identifier.issn0003-6951-
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/2433/50337-
dc.language.isoeng-
dc.publisherAMER INST PHYSICSen
dc.rightsCopyright 2007 American Institute of Physics. This article may be downloaded for personal use only. Any other use requires prior permission of the author and the American Institute of Physics.en
dc.titleAluminum diffusion and reaction in thin films of perylene-3,4,9,10-tetracarboxylic dianhydride: Depth profiles and time-dependent diffusion coefficientsen
dc.typejournal article-
dc.type.niitypeJournal Article-
dc.identifier.jtitleAPPLIED PHYSICS LETTERSen
dc.identifier.volume91-
dc.identifier.issue14-
dc.relation.doi10.1063/1.2763980-
dc.textversionpublisher-
dc.identifier.artnum141915-
dc.relation.urlhttp://link.aip.org/link/?apl/91/141915-
dcterms.accessRightsopen access-
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