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タイトル: Model of oxygen-deficiency-related defects in SiO2 glass
著者: Uchino, T
Takahashi, M
Yoko, T
発行日: 1-Aug-2000
出版者: AMERICAN PHYSICAL SOC
誌名: PHYSICAL REVIEW B
巻: 62
号: 5
開始ページ: 2983
終了ページ: 2986
著作権等: Copyright 2000 American Physical Society
URI: http://hdl.handle.net/2433/50387
DOI(出版社版): 10.1103/PhysRevB.62.2983
関連リンク: http://link.aps.org/abstract/PRB/v62/p2983
出現コレクション:学術雑誌掲載論文等

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