ダウンロード数: 0

このアイテムのファイル:
このアイテムに関連するファイルはありません。
完全メタデータレコード
DCフィールド言語
dc.contributor.authorLiu, ZLen
dc.contributor.authorSugata, Sen
dc.contributor.authorYuge, Ken
dc.contributor.authorNagasono, Men
dc.contributor.authorTanaka, Ken
dc.contributor.authorKawai, Jen
dc.date.accessioned2007-03-28T04:30:03Z-
dc.date.available2007-03-28T04:30:03Z-
dc.date.issued2004-
dc.identifier.issn1098-0121-
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/2433/5324-
dc.language.isoeng-
dc.publisherAMERICAN PHYSICAL SOCen
dc.titleCorrelation between chemical shift of SiK alpha lines and the effective charge on the Si atom and its application in the Fe-Si binary systemen
dc.typejournal article-
dc.type.niitypeJournal Article-
dc.identifier.jtitlePHYSICAL REVIEW Ben
dc.identifier.volume69-
dc.identifier.issue3-
dc.relation.doi10.1103/PhysRevB.69.035106-
dc.textversionnone-
dc.identifier.artnum035106-
dcterms.accessRightsmetadata only access-
出現コレクション:英文論文データベース

アイテムの簡略レコードを表示する

Export to RefWorks


出力フォーマット 


このリポジトリに保管されているアイテムはすべて著作権により保護されています。