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完全メタデータレコード
| DCフィールド | 値 | 言語 |
|---|---|---|
| dc.contributor.author | Miyato, Y | en |
| dc.contributor.author | Kobayashi, K | en |
| dc.contributor.author | Matsushige, K | en |
| dc.contributor.author | Yamada, H | en |
| dc.date.accessioned | 2007-03-28T03:10:57Z | - |
| dc.date.available | 2007-03-28T03:10:57Z | - |
| dc.date.issued | 2005 | - |
| dc.identifier.issn | 0021-4922 | - |
| dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/2433/5750 | - |
| dc.language.iso | eng | - |
| dc.publisher | INST PURE APPLIED PHYSICS | en |
| dc.subject | single wall carbon nanotube | en |
| dc.subject | dielectrophoresis | en |
| dc.subject | Kelvin probe force microscopy | en |
| dc.subject | surface potential | en |
| dc.subject | Schottky barrier | en |
| dc.title | Local surface potential measurements of carbon nanotube FETs by Kelvin probe force microscopy | en |
| dc.type | journal article | - |
| dc.type.niitype | Journal Article | - |
| dc.identifier.jtitle | JAPANESE JOURNAL OF APPLIED PHYSICS PART 1-REGULAR PAPERS SHORT NOTES & REVIEW PAPERS | en |
| dc.identifier.volume | 44 | - |
| dc.identifier.issue | 4A | - |
| dc.identifier.spage | 1633 | - |
| dc.identifier.epage | 1636 | - |
| dc.relation.doi | 10.1143/JJAP.44.1633 | - |
| dc.textversion | none | - |
| dcterms.accessRights | metadata only access | - |
| 出現コレクション: | 英文論文データベース | |
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