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タイトル: 抵抗回路の感度の符号と区間解析(数値計算における品質保証とその応用 : 感度解析から証明まで)
その他のタイトル: Interval Analysis of Resistive Networks by Using Signs of Sensitivity
著者: 早川, 透  KAKEN_name
著者名の別形: HAYAKAWA, Tooru
発行日: Nov-1995
出版者: 京都大学数理解析研究所
誌名: 数理解析研究所講究録
巻: 928
開始ページ: 42
終了ページ: 48
URI: http://hdl.handle.net/2433/59922
出現コレクション:0928 数値計算における品質保証とその応用 : 感度解析から証明まで

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