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完全メタデータレコード
| DCフィールド | 値 | 言語 |
|---|---|---|
| dc.contributor.author | Nakamura, S | en |
| dc.contributor.author | Kimoto, T | en |
| dc.contributor.author | Matsunami, H | en |
| dc.date.accessioned | 2007-03-28T03:58:21Z | - |
| dc.date.available | 2007-03-28T03:58:21Z | - |
| dc.date.issued | 2002 | - |
| dc.identifier.issn | 0021-4922 | - |
| dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/2433/6145 | - |
| dc.language.iso | eng | - |
| dc.publisher | INST PURE APPLIED PHYSICS | en |
| dc.subject | silicon carbide (SiC) | en |
| dc.subject | chemical vapor deposition (CVD) | en |
| dc.subject | deep-level transient spectroscopy (DLTS) | en |
| dc.subject | deep-level transient Fourier spectroscopy (DLTFS) | en |
| dc.subject | Z(1) center | en |
| dc.title | High-sensitivity analysis of Z(1) center concentration in 4H-SiC grown by horizontal cold-wall chemical vapor deposition | en |
| dc.type | journal article | - |
| dc.type.niitype | Journal Article | - |
| dc.identifier.jtitle | JAPANESE JOURNAL OF APPLIED PHYSICS PART 1-REGULAR PAPERS SHORT NOTES & REVIEW PAPERS | en |
| dc.identifier.volume | 41 | - |
| dc.identifier.issue | 5A | - |
| dc.identifier.spage | 2987 | - |
| dc.identifier.epage | 2988 | - |
| dc.relation.doi | 10.1143/JJAP.41.2987 | - |
| dc.textversion | none | - |
| dcterms.accessRights | metadata only access | - |
| 出現コレクション: | 英文論文データベース | |
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