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タイトル: Near-field scanning optical microscopic transient lens for carrier dynamics study in InGaN/GaN
著者: Okamoto, K
Scherer, A
Kawakami, Y  KAKEN_id  orcid https://orcid.org/0000-0003-3752-1507 (unconfirmed)
発行日: 2005
出版者: AMER INST PHYSICS
誌名: APPLIED PHYSICS LETTERS
巻: 87
号: 16
論文番号: 161104
URI: http://hdl.handle.net/2433/6717
DOI(出版社版): 10.1063/1.2105999
リンク: Web of Science
出現コレクション:英文論文データベース

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