ダウンロード数: 0
このアイテムのファイル:
このアイテムに関連するファイルはありません。
完全メタデータレコード
| DCフィールド | 値 | 言語 |
|---|---|---|
| dc.contributor.author | Han, Jiwon | en |
| dc.contributor.author | Lee, Kyung-Hwang | en |
| dc.contributor.author | Fujii, Shosuke | en |
| dc.contributor.author | Sano, Hikaru | en |
| dc.contributor.author | Kim, Young-Jong | en |
| dc.contributor.author | Murase, Kumaki | en |
| dc.contributor.author | Ichii, Takashi | en |
| dc.contributor.author | Sugimura, Hiroyuki | en |
| dc.date.accessioned | 2008-11-17T03:05:45Z | - |
| dc.date.available | 2008-11-17T03:05:45Z | - |
| dc.date.issued | 2007 | - |
| dc.identifier.issn | 0021-4922 | - |
| dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/2433/67518 | - |
| dc.language.iso | eng | - |
| dc.publisher | INST PURE APPLIED PHYSICS | en |
| dc.subject | scanning capacitance microscopy (SCM) | en |
| dc.subject | self-assembled monolayer (SAM) | en |
| dc.subject | Kelvin-probe force microscopy (KFM) | en |
| dc.subject | charge trap | en |
| dc.subject | nanolithography | en |
| dc.title | Scanning capacitance microscopy for alkylsilane-monolayer-covered Si substrate patterned by scanning probe lithography | en |
| dc.type | journal article | - |
| dc.type.niitype | Journal Article | - |
| dc.identifier.jtitle | JAPANESE JOURNAL OF APPLIED PHYSICS PART 1-REGULAR PAPERS BRIEF COMMUNICATIONS & REVIEW PAPERS | en |
| dc.identifier.volume | 46 | - |
| dc.identifier.issue | 8B | - |
| dc.identifier.spage | 5621 | - |
| dc.identifier.epage | 5625 | - |
| dc.relation.doi | 10.1143/JJAP.46.5621 | - |
| dc.textversion | none | - |
| dcterms.accessRights | metadata only access | - |
| 出現コレクション: | 英文論文データベース | |
このリポジトリに保管されているアイテムはすべて著作権により保護されています。