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dc.contributor.authorKawakubo, Toruen
dc.contributor.authorMiura, Daisukeen
dc.contributor.authorKurokawa, Shuen
dc.contributor.authorSakai, Akiraen
dc.date.accessioned2008-11-17T03:05:50Z-
dc.date.available2008-11-17T03:05:50Z-
dc.date.issued2007-
dc.identifier.issn0021-4922-
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/2433/67523-
dc.language.isoeng-
dc.publisherINST PURE APPLIED PHYSICSen
dc.subjectmetal nanocontactsen
dc.subjectconductanceen
dc.subjectcurrent-induced contact breaken
dc.subjectinstabilityen
dc.subjectSnen
dc.titleHigh-bias break of Sn nanocontactsen
dc.typejournal article-
dc.type.niitypeJournal Article-
dc.identifier.jtitleJAPANESE JOURNAL OF APPLIED PHYSICS PART 1-REGULAR PAPERS BRIEF COMMUNICATIONS & REVIEW PAPERSen
dc.identifier.volume46-
dc.identifier.issue11-
dc.identifier.spage7596-
dc.identifier.epage7598-
dc.relation.doi10.1143/JJAP.46.7596-
dc.textversionnone-
dcterms.accessRightsmetadata only access-
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