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完全メタデータレコード
DCフィールド | 値 | 言語 |
---|---|---|
dc.contributor.author | Ochiai, S. | en |
dc.contributor.author | Fujimoto, M. | en |
dc.contributor.author | Shin, J. K. | en |
dc.contributor.author | Okuda, H. | en |
dc.contributor.author | Hojo, M. | en |
dc.contributor.author | Osamura, K. | en |
dc.contributor.author | Kuroda, T. | en |
dc.contributor.author | Itoh, K. | en |
dc.contributor.author | Wada, H. | en |
dc.date.accessioned | 2008-11-17T03:05:55Z | - |
dc.date.available | 2008-11-17T03:05:55Z | - |
dc.date.issued | 2007 | - |
dc.identifier.issn | 0921-4534 | - |
dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/2433/67529 | - |
dc.language.iso | eng | - |
dc.publisher | ELSEVIER SCIENCE BV | en |
dc.subject | Bi2223 composite tape | en |
dc.subject | critical current | en |
dc.subject | bending | en |
dc.subject | statistical analysis | en |
dc.title | Statistical analysis of scatter in critical current of bent superconducting Bi2223 composite tape | en |
dc.type | journal article | - |
dc.type.niitype | Journal Article | - |
dc.identifier.jtitle | PHYSICA C-SUPERCONDUCTIVITY AND ITS APPLICATIONS | en |
dc.identifier.volume | 463 | - |
dc.identifier.spage | 885 | - |
dc.identifier.epage | 890 | - |
dc.textversion | none | - |
dcterms.accessRights | metadata only access | - |
出現コレクション: | 英文論文データベース |

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